LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。

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手持式屈折度计

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DP80双CCD设计兼顾明场和荧光显微观察方式显微观察的尖端相机。

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变倍比率 6.3:1；放大倍数从6.3倍到40倍；观察镜筒视角 60°；110毫米工作距离；10倍目镜视野23 毫米可提供 36.5毫米的大视野；两个可调节可设置的倍数限位装置

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触摸屏控制，操作简单外观精美；波段和亮度清晰可见，自主控制；可加入人体感应，实现人走灯灭；实时监控灯箱温度和使用时长

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JX30B正置明暗视场透反射金相显微镜是一种多用途工业查验用光学仪器

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徕卡Leica MZ10 F模块化立体显微镜，放大倍率为8倍至80倍，375Lp/mm的高分辨率，提供了三束技术，其专门针对高对比度和细节荧光成像的荧光照明指定单独的光束路径。

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